CAMTEK LTD

Camtek Ltd., together with its subsidiaries, develops, manufactures, and sells inspection and metrology equipment for semiconductor industry in the United States, China, Korea, Europe, and the Asia Pacific. The company offers Hawk, a platform engineered for advanced packaging; Eagle G5 for enhanced detection and metrology; Eagle-i/Plus, a system that delivers 2D inspection and metrology capabilities; Eagle-AP/Plus, which addresses the advanced packaging market using software and hardware technologies that deliver 2D and 3D inspection and metrology capabilities on the same platform; and Golden Eagle for the inspection and metrology of standard panel sizes. It also develops MicroProf AP, a wafer metrology tool for applications at 3D packaging process steps; MicroProf DI, an optical inspection tool that enables inspection of structured and unstructured wafers; MicroProf FE, a 2D/3D wafer metrology tool; MicroProf FS, a wafer metrology tool configurable; MicroProf PT for hybrid metrology applications to common panel sizes; MicroProf MHU metrology tool, a material handling unit for the semiconductor, MEMS, sapphire, and LED industries; MicroProf TL, an optical surface measurement tool for fully automatic 3D surface measurements; MicroProf 200, a measuring device for contactless and non-destructive characterization of surfaces and films; and MicroProf 300, a SurfaceSens technology for quality assurance, development, and manufacturing. The company serves semiconductor manufacturers, outsourced semiconductor assembly and test, integrated device manufacturers, and wafer level packaging subcontractors. Camtek Ltd. was incorporated in 1987 and is headquartered in Migdal HaEmek, Israel.

Camtek Ltd.는 자회사와 함께 미국, 중국, 한국, 유럽 및 아시아 태평양 지역에서 반도체 산업용 검사 및 측정 장비를 개발, 제조 및 판매합니다. 당사는 첨단 패키징을 위해 설계된 플랫폼 Hawk; 향상된 감지 및 측정을 위한 Eagle G5; 2D 검사 및 측정 기능을 제공하는 시스템 Eagle-i/Plus; 동일 플랫폼에서 2D 및 3D 검사 및 측정 기능을 제공하는 소프트웨어 및 하드웨어 기술을 적용하여 첨단 패키징 시장을 공략하는 Eagle-AP/Plus; 그리고 표준 패널 크기의 검사 및 측정을 위한 Golden Eagle을 선보입니다. 또한 3D 패키징 공정 단계 적용을 위한 웨이퍼 측정 도구 MicroProf AP; 구조화 및 비구조화 웨이퍼 검사를 가능하게 하는 광학 검사 도구 MicroProf DI; 2D/3D 웨이퍼 측정 도구 MicroProf FE; 구성 가능한 웨이퍼 측정 도구 MicroProf FS; 일반 패널 크기에 대한 하이브리드 측정 애플리케이션을 위한 MicroProf PT; 반도체, MEMS, 사파이어 및 LED 산업용 자재 처리 장치인 MicroProf MHU 측정 도구; 완전 자동 3D 표면 측정을 위한 광학 표면 측정 도구 MicroProf TL; 표면 및 박막의 비접촉 및 비파괴 특성화를 위한 측정 장치 MicroProf 200; 그리고 품질 보증, 개발 및 제조를 위한 SurfaceSens 기술인 MicroProf 300을 개발합니다. 당사의 주요 고객층은 반도체 제조업체, 외주 반도체 조립 및 테스트 업체, 종합 반도체 기업, 그리고 웨이퍼 레벨 패키징 하청업체입니다. Camtek Ltd.는 1987년에 설립되었으며, 이스라엘 미그달 하에메크에 본사를 두고 있습니다.